JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (Izumi Oi, presidente y director ejecutivo) anuncia el lanzamiento de los microscopios electrónicos de barrido JSM-IT710HR/JSM-IT210 el 23 de julio de 2023.
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JSM-IT710HR (Photo: Business Wire)
Los microscopios electrónicos de barrido tienen usos muy diversos, desde investigaciones básicas, líneas de producción y control de calidad hasta investigación y desarrollo, y sus campos de aplicación incluyen metales, semiconductores, baterías, biotecnología y polímeros. Actualmente existe una necesidad cada vez mayor de poder confirmar con más facilidad la información relativa a la composición sin tener que limitarse a la observación, sino también al análisis.
El JSM-IT710HR mejora la estabilidad del cañón de electrones, mientras que el JSM-IT210 emplea una platina para muestras con control motorizado de 5 ejes. En ambos modelos se han perfeccionado las funciones de medición automática para la observación y el análisis y se han mejorado notablemente los amplios puntos fuertes del SEM. Estos modelos responderán perfectamente a las recientes necesidades de medición automática del mercado y contribuirán a aumentar la eficacia de los trabajos rutinarios.
Características principales
1. «Simple SEM» automatiza la adquisición de imágenes SEM y el análisis EDS.
La función Simple SEM permite al usuario seleccionar las condiciones de adquisición y el campo de visión de la imagen SEM y, a continuación, la imagen SEM y el análisis EDS (espectrometría de rayos X por energía dispersiva) se adquieren automáticamente. De este modo se contribuye a aumentar la eficacia en los trabajos rutinarios, incluido el análisis.
2. «Live3D» construye imágenes 3D en el acto.
Las imágenes 3D pueden construirse en el momento mientras se realiza la observación SEM para obtener información sobre relieve y profundidad.
3. «Stage Navigation System LS», que permite a los usuarios adquirir una imagen óptica de un área cinco veces mayor que la de los sistemas convencionales.
El Stage Navigation System LS está preparado para adquirir una imagen óptica de un área cinco veces mayor que la de los sistemas convencionales (diámetro aprox. 159 mm). Con esta función, el usuario puede adquirir una imagen óptica de la muestra de observación y desplazarse al campo de observación deseado simplemente haciendo clic en la imagen óptica.
4. «Low-vacuum Hybrid Secondary Electron Detector (LHSED)» adquiere información topográfica mejorada incluso en condiciones de bajo vacío
Este detector recoge señales tanto de electrones como de fotones, lo que permite obtener una imagen con una alta relación señal/ruido y una información topográfica mejorada, incluso en condiciones de bajo vacío.
5. Platina para muestras con control motorizado de 5 ejes.
La platina para muestras con control motorizado de 5 ejes viene de serie, lo que facilita la adquisición de imágenes SEM de muestras irregulares y el análisis EDS.
6. Estabilidad mejorada del cañón de electrones (JSM-IT710HR).
Se mejora aún más la estabilidad del haz de electrones, lo que permite trabajar de forma automática y continua durante un largo período de tiempo, utilizando portamuestras que pueden cargar varias muestras a la vez.
Objetivo anual de ventas de unidades
JSM-IT710HR: 150 unidades/año
JSM-IT210: 250 unidades/año
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japón
Izumi Oi, presidente y director ejecutivo
(Código bursátil: 6951, Tokyo Stock Exchange Prime Market)
www.jeol.com
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